当涉及到高频领域的应用时，我们塑料的介电特性变得非常重要，例如5G通信。该工具为您提供洞察介电常数和耗散因数随温度和频率的变化。

用户输入：

  • 牌号选择
  • 应用温度
  • 应用频率

工具输出：

  • 预测介电常数 dk 随温度/频率的变化
  • 预测耗散因数df随温度/频率的变化
  • 所选条件下的介电常数、耗散因数和电阻率值

 

介电特性示意图
  • 低频（0.1Hz-1MHz）的测量根据IEC 62631-2-1进行。
  • GHz 测量采用符合 IEC 61189-2-721 的分裂后介电谐振器 （SPDR） 方法进行。
用于 dk/df 测量的 SPDR 设备
介电光谱仪

模型创建

该模型基于涵盖各种温度和频率的物理实验：

  • -30°C（-22°F） 至 80°C（176°F）
  • ~0.1Hz 至 1MHz 和 5GHz

在某些频率范围（1MHz至1GHz，10GHz至100GHz）和各种温度下，缺乏可行的测量方法。因此，介电特性是从物理建模和现有数据中推导出来的。通过拟合Havriliak-Negami方程，可以预测更宽频率范围（0.1Hz至100GHz）的介电数据。

准确性

  • 平均而言，标准偏差（1西格玛）约为5%。
  • 目前，我们不提供低于 -30°C （-22°F）、高于 80°C （176°F） 或高于 100 GHz 的预测。5GHz以上的预测是模型外推。
Havriliak-Negami 方程

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为什么我不能选择 全部 恩骅力牌号？

我们正在将此工具扩展到更多牌号，但这取决于实验数据的可用性以及对该特定牌号的需求。填写页面右下角的反馈表，让我们知道您正在寻找什么牌号！

为什么不允许我从图表中导出数据？

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