当社のプラスチック製品の誘電体特性は、5G通信などの高周波領域のアプリケーションに関して非常に重要になります。このツールは、温度と周波数の関数として誘電率と誘電正接の両方をインサイトします。

ユーザー入力:

  • グレード選択
  • アプリケーションの温度
  • 適用頻度

ツール出力:

  • 温度/周波数の関数としての誘電率dkの予測
  • 温度/周波数の関数としての誘電正接dfの予測
  • 選択した条件での誘電率、誘電正接、抵抗率の値

 

概略誘電特性
  • 低周波(0.1Hz-1MHz)での測定は、IEC 62631-2-1に従って行われます。
  • GHz測定は、IEC 61189-2-721に準拠した分割後誘電体共振器(SPDR)方式で実施されます。
dk/df測定用SPDR装置
誘電体分光器

モデル作成

このモデルは、幅広い温度と周波数をカバーする物理実験に基づいています。

  • -30°C(-22°F)から80°C(176°F)
  • ~0.1Hz〜1MHzおよび5GHz

特定の周波数範囲(1MHz〜1GHz、10GHz〜100GHz)およびさまざまな温度では、実用的な測定方法が不足しています。したがって、誘電特性は物理モデリングと既存のデータから推定されます。Havriliak-Negami方程式を当てはめることで、より広い周波数範囲(0.1Hz〜100GHz)の誘電データを予測できます。

精度

  • 平均して、標準偏差(1シグマ)は約5%です。
  • 現在、-30°C(-22°F)、80°C(176°F)、または100GHzを超える予測は提供していません。5GHzを超える予測は、モデルの外挿です。
Havriliak–Negami 方程式

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すべての エンバリオグレードを選択 できないのはなぜですか?

現在、このツールをより多くのグレードに拡張する過程にありますが、これは実験データの入手可能性と、その特定のグレードの需要に依存します。ページの右下にあるフィードバックフォームに記入して、探している成績をお知らせください。

グラフからデータをエクスポートできないのはなぜですか?

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